Шевцова Светлана Ивановна

Аналитические исследования физическими методами

[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]

Содержание

Аналитические и микроскопические возможности оборудования

1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
2. Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
3. Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

1. Электронные пушки
2. Источники рентгеновского излучения
3. Электронные анализаторы
4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения