Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями

Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Перейти к: навигация, поиск
(Введение)
 
(не показано 6 промежуточных версий этого же участника)
Строка 1: Строка 1:
+
<div style="text-align: center;">
  <title> "Аналитические исследования Физическими методами"</title>
+
  '''Аналитические исследования физическими методами'''</div>
 +
[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]
 +
<div style="text-align: center;">
 +
Содержание
 +
</div>
 +
 
 +
 
 
<h1> Введение  </h1>
 
<h1> Введение  </h1>
  
== Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' ==
+
<h1> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1>
 
 
 
== Аналитические и микроскопические возможности оборудования ' ==
 
  
"Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ"
+
<h1> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1>
'Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами' ,
+
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
'Анализ поверхности методами Оже спектроскопии'
+
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
 +
# Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
  
+
<h1> Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов</h1>
==  Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов ==
+
# Электронные пушки
'  "FlashЭлектронные пушки" "Источники рентгеновского излучения" , "Электронные анализаторы" , "Регистрация электронов и рентгеновского излучения" ,  , "Литература" , "literature.html" , 0 , "", 0)
+
# Источники рентгеновского излучения
 +
# Электронные анализаторы
 +
# Регистрация электронов и рентгеновского излучения

Текущая версия на 15:36, 27 апреля 2009

Аналитические исследования физическими методами

[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]

Содержание


Введение

Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'

Аналитические и микроскопические возможности оборудования

  1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
  2. Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
  3. Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

  1. Электронные пушки
  2. Источники рентгеновского излучения
  3. Электронные анализаторы
  4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения