Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями

Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Перейти к: навигация, поиск
Строка 9: Строка 9:
 
<h1> Введение  </h1>
 
<h1> Введение  </h1>
  
<h1> 1.Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1>
+
<h1> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1>
  
<h1> 2.Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1>
+
<h1> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1>
 
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
 
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
 
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
 
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами

Версия 15:30, 27 апреля 2009

Аналитические исследования физическими методами
Содержание


Введение

Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'

Аналитические и микроскопические возможности оборудования

  1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
  2. Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
  3. Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

  1. Электронные пушки
  2. Источники рентгеновского излучения
  3. Электронные анализаторы
  4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения