Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями

Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Перейти к: навигация, поиск
(Аналитические и микроскопические возможности оборудования ')
(Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов)
Строка 14: Строка 14:
 
# Element 3
 
# Element 3
  
== Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов ==
+
== Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов==
'  "FlashЭлектронные пушки" "Источники рентгеновского излучения" , "Электронные анализаторы" , "Регистрация электронов и рентгеновского излучения" ,  , "Литература" , "literature.html" , 0 , "", 0)
+
# Электронные пушки
 +
# Источники рентгеновского излучения
 +
# Электронные анализаторы
 +
# Регистрация электронов и рентгеновского излучения

Версия 15:14, 27 апреля 2009

<title> "Аналитические исследования Физическими методами"</title>

Введение

Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'

Аналитические и микроскопические возможности оборудования


  1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ

Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами

Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

  1. Element 2
  2. Element 3

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

  1. Электронные пушки
  2. Источники рентгеновского излучения
  3. Электронные анализаторы
  4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения