Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями
Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Admin (обсуждение | вклад) |
Admin (обсуждение | вклад) |
||
| Строка 9: | Строка 9: | ||
<h1> Введение </h1> | <h1> Введение </h1> | ||
| − | <h1> | + | <h1> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1> |
| − | <h1> | + | <h1> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1> |
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ | # Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ | ||
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами | # Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами | ||
Версия 15:30, 27 апреля 2009
Аналитические исследования физическими методами
Содержание
Содержание
Введение
Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'
Аналитические и микроскопические возможности оборудования
- Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
- Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
- Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов
- Электронные пушки
- Источники рентгеновского излучения
- Электронные анализаторы
- Регистрация электронов и рентгеновского излучения
