Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями
Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Admin (обсуждение | вклад) (→Аналитические и микроскопические возможности оборудования ') |
Admin (обсуждение | вклад) (→Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов) |
||
Строка 14: | Строка 14: | ||
# Element 3 | # Element 3 | ||
− | == | + | == Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов== |
− | + | # Электронные пушки | |
+ | # Источники рентгеновского излучения | ||
+ | # Электронные анализаторы | ||
+ | # Регистрация электронов и рентгеновского излучения |
Версия 15:14, 27 апреля 2009
<title> "Аналитические исследования Физическими методами"</title>
Содержание
Введение
Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'
Аналитические и микроскопические возможности оборудования
-
Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
- Element 2
- Element 3
Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов
- Электронные пушки
- Источники рентгеновского излучения
- Электронные анализаторы
- Регистрация электронов и рентгеновского излучения