Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями
Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Admin (обсуждение | вклад) |
Admin (обсуждение | вклад) |
||
| (не показана 1 промежуточная версия этого же участника) | |||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
<div style="text-align: center;"> | <div style="text-align: center;"> | ||
'''Аналитические исследования физическими методами'''</div> | '''Аналитические исследования физическими методами'''</div> | ||
| − | + | [Институт физики http://www.ip.rsu.ru] | |
<div style="text-align: center;"> | <div style="text-align: center;"> | ||
Содержание | Содержание | ||
| Строка 9: | Строка 9: | ||
<h1> Введение </h1> | <h1> Введение </h1> | ||
| − | <h1> | + | <h1> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1> |
| − | <h1> | + | <h1> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1> |
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ | # Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ | ||
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами | # Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами | ||
Текущая версия на 15:36, 27 апреля 2009
Аналитические исследования физическими методами
[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]
Содержание
Содержание
Введение
Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'
Аналитические и микроскопические возможности оборудования
- Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
- Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
- Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов
- Электронные пушки
- Источники рентгеновского излучения
- Электронные анализаторы
- Регистрация электронов и рентгеновского излучения
