Шевцова Светлана Ивановна — различия между версиями

Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Перейти к: навигация, поиск
 
(не показаны 2 промежуточные версии этого же участника)
Строка 1: Строка 1:
 
<div style="text-align: center;">
 
<div style="text-align: center;">
−
  <h1>'''Аналитические исследования физическими методами'''</h1>
+
  '''Аналитические исследования физическими методами'''</div>
 +
[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]
 +
<div style="text-align: center;">
 +
Содержание
 
</div>
 
</div>
−
<h1>Содержание</h1>
 
  
  
−
<h2> Введение  </h2>
+
<h1> Введение  </h1>
  
−
<h2> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h2>
+
<h1> Оборудование для аналитических и микроскопических исследований' </h1>
  
−
<h2> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h2>
+
<h1> Аналитические и микроскопические возможности оборудования </h1>
 
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
 
# Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
 
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
 
# Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
 
# Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
 
# Анализ поверхности методами Оже спектроскопии
  
−
<h2> Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов</h2>
+
<h1> Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов</h1>
 
# Электронные пушки
 
# Электронные пушки
 
# Источники рентгеновского излучения
 
# Источники рентгеновского излучения
 
# Электронные анализаторы
 
# Электронные анализаторы
 
# Регистрация электронов и рентгеновского излучения
 
# Регистрация электронов и рентгеновского излучения

Текущая версия на 15:36, 27 апреля 2009

Аналитические исследования физическими методами

[Институт физики http://www.ip.rsu.ru] 

Содержание


Введение

Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'

Аналитические и микроскопические возможности оборудования

  1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
  2. Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
  3. Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

  1. Электронные пушки
  2. Источники рентгеновского излучения
  3. Электронные анализаторы
  4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения
Источник — «http://it.mmcs.sfedu.ru/_wiki/index.php?title=Шевцова_Светлана_Ивановна&oldid=1858»