Шевцова Светлана Ивановна

Материал из Вики ИТ мехмата ЮФУ
Версия от 15:36, 27 апреля 2009; Admin (обсуждение | вклад)

(разн.) ← Предыдущая | Текущая версия (разн.) | Следующая → (разн.)
Перейти к: навигация, поиск
Аналитические исследования физическими методами

[Институт физики http://www.ip.rsu.ru]

Содержание


Введение

Оборудование для аналитических и микроскопических исследований'

Аналитические и микроскопические возможности оборудования

  1. Растровая электронная микроскопия и электроннозонддовый микроанализ
  2. Анализ поверхности рентгеноэлектронными методами
  3. Анализ поверхности методами Оже спектроскопии

Физические основы поверхностных и локальных аналитических методов

  1. Электронные пушки
  2. Источники рентгеновского излучения
  3. Электронные анализаторы
  4. Регистрация электронов и рентгеновского излучения